仪器品牌：PSEL

仪器型号：Laue_V_674_AC_GigE

仪器配置简介

仪器包含劳厄单晶衍射仪主机系统、标准聚焦钨X射线管、探测器、电动定向样品台、三轴电动旋转测角仪、X-射线防护装置、高精度线切割机。

基本功能

该仪器主要用于小尺寸单晶样品晶胞参数、单晶结构测定，晶体取向偏离角的无损快速测量。

主要技术参数

1.X射线源

1.1 X射线源功率可调

1.2 X射线源最高功率 25 W

2.探测器

2.1 探测器探测范围100 mmx152 mm

2.2 探测器分辨率2500x1650 ppi

2.3 曝光时间可调，最短曝光时间1ms

2.4 探测器定向单晶硅样品≤5 s

3.电动定向样品台

3.1 垂直于光束轴定位：X轴方向50 mm和 Y轴方向100 mm

3.2 沿光束轴定位：Z轴方向40 mm

3.3 电动平移样品台

3.4 电动测角仪头

3.5 旋转轴可±180度旋转

3.6 转角绝对精度≤0.06°

3.7 配套定向调整工具  

4.全自动晶体定向软件

4.1 保存和整理数据文件，获取高质量的劳埃图像

4.2 可实现自动定向和自动校准

4.3 软件定向分辨率≤0.3°

5. X-射线防护

5.1 铅防护箱，带有铅玻璃观察窗口

5.2 电磁安全连锁装置

5.3 过压保护机制

送样要求

1.样品各维度尺寸大于1mm的无机单晶体，样品表面平整。

2.提供晶体的cif文件。