重庆大学分析测试中心
 
 
 
 
热点文章
 
  新闻详细页面
当前位置： 首页>>中心概况>>师资力量>>正文
  
张斌 副研究员
2017-06-18 17:24  

张斌 副研究员

北京工业大学博士

微纳结构分析室负责人

负责设备：聚焦离子/电子双束电镜（FIB-SEM）

   高分辨透射电子显微镜（TEM）

【关闭窗口】
 
  
 网站地图 | 返回首页 | 联系我们 

Copyright © 2015-2017 Powered by 重庆大学分析测试中心  电话：023-65678550 
电子邮箱:255039042@qq.com    渝ICP备14002361号
学校地址：重庆市沙坪坝区大学城南路55号