分析测试中心新购置的多功能高分辨X射线衍射仪自2020年10月12日至10月24日面向校内用户开放试运行，试运行期间可免费测样（送样量根据实际情况相应调整），欢迎各位老师和同学前来送样测试。
仪器品牌：荷兰帕纳科
仪器型号：Empyrean
仪器简介：
中心配置的多功能高分辨X射线衍射仪包含了高温台、微区样品台、五轴样品台、旋转透射样品台以及高分辨模块等高端配件，可以进行普通粉末物相、微区、应力、织构、小角散射、薄膜、二维衍射、透射、高分辨、原位高温等多种功能的测试需求，几乎涵盖了所有常见的XRD测试功能需求，同时该配备了自动进样器、全自动光路切换、最高端的检测器，是物理学、化学、材料科学、矿物学、地质学、冶金学、生命科学、药物学等众多学科所需的基本分析测试设备之一。同时，各种行业如新材料、水泥、催化剂、石油、能源和医药等所有质量控制方式也可以从基础研究上表征材料的结构信息。
基本功能：
1. 小角衍射：可用于小角度的粉末衍射：0.1~3°；
2. 透射：适用于枝状药物晶体，特别是微量相的检测；
3. 微区衍射：实现对样品区域图像观测和定位，直接观测并拍摄微区样品测量点，最小面积0.5 mm*0.1 m；
4. 原位高温：自动Z-轴，样品高度由软件控制可调，实时观察不同温度下材料的相变，温度范围：室温~1300 ℃；
5. 小角散射：测量纳米材料的粒度分布，适用于1~100 nm；
6. 薄膜物相及厚度：通过选取合适的掠入射角度对样品进行物相和XRR的分析；
7. 高分辨薄膜：采用高分辨模块Hybrid，实现对薄膜的Omega，Omega-2Theta以及RSM测试，获得样品的对称性、缺陷等信息；
8. 应力分析：采用同倾法或多hkl 法分别用于块体或薄膜的表面残余应力的分析；
9. 织构分析：对块体或薄膜的晶面进行极图测试，得到ODF图；
10. 定量及精修：通过软件进一步的分析可以得到材料各组分的含量、晶粒尺寸以及结晶度等信息。
主要技术参数：
1. 最大输出功率：4 kW；
2. 靶材：Cu靶；
3. 最大管电压：50 kV；
4. 最大管电流：55 mA；
5. 角度重现性：0.001°；
6. 测角仪精度：≤ ±0.0001°；
7. 全局计数率：>3*1010；
8. 能量分辨率：450 eV；
9. 子探测器大小：55 um *55um
10. 子探测器总个数：65536个
送样要求：
1. 粉末：研磨均匀，过200目筛；
2. 薄膜及块体：表面平整光滑。
不同功能适用于不同类型的样品，具体信息请联系仪器负责老师。
仪器放置地点：虎溪校区分析测试中心LF111
仪器负责工程师：邹函君老师 QQ 461635239
分析测试中心XRD交流群：345144137
