为进一步满足校内外研究团队对热分析仪器的需求，分析测试中心新购置的薄膜导热仪近期完成设备安装与调试，将于2023年10月8日至10月22日开放试运行，欢迎校内外师生、用户积极预约使用。
一、仪器介绍
仪器品牌：NETZSCH
仪器型号：NanoTR
仪器配置简介
仪器包含薄膜导热测量主机系统，通过热反射法测量薄膜的热扩散系数和界面热阻，基本单元包括加热激光系统 (波长1550 nm，脉冲宽度1 ns )、检测激光系统 （CW 激光，785 nm，连续）、检测器、放大器和数据采集系统，样品加热台，可使得样品温度达到300℃及以上。配备离子溅射仪，可对样品表面镀金属钼。
二、基本功能
本设备是基于超高速激光闪射系统的热反射方法，使用RF或者FF的测量模式，检测激光照射下薄膜的温度上升或温度下降的过程，从而计算纳米级薄膜的热扩散系数和界面热阻。薄膜导热仪广泛应用于相变材料（PCM），热电薄膜，发光二极管（LED），夹层电介质和透明导电薄膜等领域，为研究纳米级别材料的热物性能提供理论依据，是实现物理、材料、化学、能源等多学科交叉深入研究的有力工具。
三、主要技术参数
1.测量方法：高速激光闪射法，时间域热反射法
2.温度范围：室温～300℃
3.升温速率（线性）：0.01至10℃/min
4.测量模式：后加热前检测（RF）、前加热前检测（FF）
5.测试气氛：惰性、氧化、还原
6.加热激光脉冲宽度：1ns
7.加热激光波长：1550nm
8.加热激光光斑直径：100um
9.样品薄层厚度：30nm～20um
10.基体材料：透明/不透明
11.基体材料尺寸：10～20 mm(方形)
12.基体材料厚度：＜1 mm
13.薄膜热扩散系数测试范围：0.01～1000mm2/s
14.薄膜热扩散系数测量重复性：4.3%
四、送样要求
样品制作为边长10～20mm方形，设备有两种模式，分别为RF模式和FF模式，FF模式要求薄膜厚度≥1μm，RF模式测量树脂材料薄膜厚度在30nm～2μm，陶瓷材料在300nm～5μm，金属材料在1μm～20μm。
RF模式仅给出热扩散系数；FF模式可给出热导率，但需要另行给予更多参数，需要结合块体导热得到衬底材料热物性参数信息。
五、其他事项
试运行时间：
10月8日至10月22日
测试地点：
虎溪校区理科楼分析测试中心LF209
仪器负责工程师：
王老师 18875245760
魏老师 17784330265
中心热分析用户交流群：
QQ 419263259
