仪器功能：

仪器由高精度、高灵敏度温度可控的红外线金面反射炉和微型加热源构成。通过PID精确控温，可同时测量半导体、陶瓷、金属等材料高温下的电导率和Seebeck系数。

仪器品牌：日本公司ADVANCE RIKO, Inc.

仪器型号：ZEM-3 M10

主要技术指标：

1.*同时得到Seebeck系数和电阻率。

2.*温度范围：RT-1000℃

3.控温精度 ≤±0.5℃

4. Seebeck系数测量范围：0.5μV/K～25V/K；电导率测量范围：0～2.5K Ohm

5. *Seebeck系数测量精度：< ±7%；测量重复性：< ±7%

6. *电导率测量精度：< ±10%；测量重复性：< ±10%

7.*测量方法：seebeck系数：静态直流电；电阻率：四端法

8. Seebeck测量方式：多温差点求斜率法

9.探针热电偶测试间距：4、6、8mm

10.上下电极间温度：在0～50℃之间，自由设定

送样要求：

测试样品为块状固体，可选形状包括圆柱与棱柱（长方条）：直径（或边长）2～4 mm；高度：9～20mm。