仪器品牌：Oxford Instruments Asylum Research

仪器型号：Cypher S

仪器简介：Asylum Research Cypher S原子力显微镜(AFM)兼具原子级分辨率、卓越稳定性与全功能表征能力，适用于材料科学与生命科学在空气/液相环境下的纳米尺度研究。

仪器主要技术参数：

(1)高分辨扫描器：XY方向扫描范围≥30 μm，Z方向扫描范围≥5 μm；

(2)扫描器噪音X，Y轴闭环噪音≤200 pm；

(3)Z轴闭环噪音≤50 pm；

(4)XY方向开环噪音≤100 pm；

(5)Z方向开环噪音≤20 pm；

(6)快速扫描功能：线扫描极限速度≥60 Hz；

(7)分辨率：图像横向分辨率≤0.2 nm，能够快速实现稳定的云母，石墨原子像。

主要功能及应用：

(1)表面形貌与结构表征：获取样品表面三维形貌、粗糙度、颗粒尺寸、薄膜厚度、台阶高度等纳米形貌的定量分析。

(2)纳米力学性能表征：通过力曲线、Force Mapping(矩阵)成像定量测试材料表面弹性模量、硬度、粘附力、摩擦力、粘弹性等力学参数。

(3)纳米电学与机电性能表征：表征样品表面电势分布、功函数、电导率、I-V特性曲线，实现铁电材料压电畴、极化翻转特性的高分辨成像与定量测试。

(4)支持液相环境下原位动态成像。

送样要求：

(1)样品状态：可为粉末、液体、块体、薄膜样品；

(2)粉末样品：常规测试项目样品起伏不超过5 μm，特殊测试项目样品起伏一般不超过1 μm；

(3)对于不导电的样品，如塑料，聚合材料，高分子材料之类，建议使用吸附胶盒、离心管等装样，请不要直接用自封袋装，如需使用自封袋请将样品与包装固定牢固，避免运输过程中摩擦产生静电，导致样品难测或无法测试；

(4)薄膜或块状样品尺寸要求：长宽5-20 mm之间，厚度1-8 mm之间，表面粗糙度不超过5 μm，一定要标明测试面！

(5)测试PFM、KPFM、C-AFM的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小符合块状样品的尺寸要求，KPFM、C-AFM的样品需要导电或半导体；

(6) PFM、KPFM测试需要样品表面十分平整，样品粗糙度最好在10-200 nm之间。